Пайдаланушы

Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?	Тіркеу

Хабарламалар

• Қарау
• Тіркелу

Іздеу

Іздеу

Іздеу аумағы Барлығы Авторлар Атауы Түйіндеме Терминдер Толық мәтін

Парақтау

• шығарылымдар
• авторлар
• атаулары бойынша
• бөлімдер бойынша
• басқа журналдар
• Категориялар

Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз

Кілтсөздер X-ray diffraction X-ray photoelectron spectroscopy atomic force microscopy electron microscopy ion implantation irradiation magnetron sputtering microstructure nanoparticles neutron reflectometry optical properties phase composition scanning electron microscopy scanning probe microscopy silicon structure surface surface morphology synchrotron radiation thin films zinc oxide

Ағымдағы шығарылым

№ 2 (2025)

Ақпарат

• Оқырмандар үшін
• Авторларға
• Кітапханалар үшін